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ケット科学研究所 膜厚計・探知器(測定範囲:0~2500)

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    電磁膜厚計 LE-373

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    • SALE 2025/03/31まで

    デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

    メーカー

    ケット科学研究所

    ケット科学研究所

    シリーズ名

    電磁膜厚計 LE-373

    デュアルタイプ膜厚計 LZ-373

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    商品タイプアナログアナログ
    測定範囲(μm)0~25000~2500
    適用被膜--
    分解能(μm)100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm-
    測定精度--
    測定方式--
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